三维原子探针断层扫描(3D Atom Probe Tomography, 3D APT)是一种具有近原子级空间分辨率(~0.3 nm)和 ppm 级成分灵敏度的材料表征技术,能够在三维空间中逐个识别并定位材料中的原子种类及其位置,广泛应用于金属、半导体、陶瓷、电池材料、催化剂等领域的微观偏析、界面结构、析出相、团簇等研究。
APT是揭示材料“微观结构-成分-性能”关系的终极工具之一。
金属与合金:
析出强化:研究时效硬化合金中纳米析出相(如铝合金中的GP区、β''相,镍基高温合金中的γ'相)的成分演化、形核与长大机制。
晶界偏聚:直接观察P, S, B等杂质元素或有益元素在晶界处的偏聚行为,研究其对回火脆性、腐蚀、蠕变的影响。
相变:分析马氏体相变、调幅分解过程中的成分涨落和相界面成分。
半导体与器件:
掺杂分布:以原子级精度绘制晶体管中SiGe、高k介质、金属栅极中的掺杂剂(如B, As, P)的三维分布,优化器件性能。
界面扩散:研究接触、阻挡层界面的原子互扩散。
能源材料(与之前讨论的相关):
电池材料:
电极材料:分析正极材料(如NMC, 富锂锰基)中过渡金属离子的混排、表面重构层、晶界成分。
固态电解质:研究锂离子导体(如LLZO, LLTO)中晶界处的元素偏聚和杂质相,揭示锂离子传输瓶颈。
界面研究:分析电极/电解质界面(如SEI膜、CEI膜)的纳米尺度成分和梯度。这是APT极具挑战但价值极高的应用。
核材料:研究辐照导致的缺陷团簇、溶质原子偏聚和气泡形成。
地质与生物材料:用于分析陨石中的纳米颗粒、生物矿物中的元素分布等。
来源:网络
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