钼矿石的检测是一个系统性的过程,从初步的野外鉴定到精确的实验室分析,旨在确定钼的品位(含量)、物相组成(以何种矿物存在)以及矿石的工艺矿物学特性。
方法1:电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)
优点:
多元素同时测定(Mo、Cu、Pb、Zn、Fe 等);
线性范围宽(mg/L–%级);
精度高(RSD < 2%)。
步骤:
样品消解(任选其一):碱熔法(适合硅酸盐脉石):
称取 0.1000 g 样品 + 2 g Na₂CO₃,在 950℃ 铂坩埚中熔融 15 min;
熔块用稀 HNO₃(1+1)浸取,定容。
酸溶法(适合纯辉钼矿):
HNO₃–HClO₄–HF 体系微波消解(注意:Mo 易挥发,禁用 HClO₄ 单独加热!);
或采用 NaOH 碱熔 + HNO₃ 酸化 更安全。
ICP-OES 测定:分析谱线:Mo 202.030 nm(主)、Mo 379.825 nm(次,高含量用);
内标校正(如 Y 或 Sc)可提升精度;
标准曲线:0.1, 1.0, 5.0, 10.0 mg/L Mo。
注意:高盐基体需稀释或基体匹配。
方法2:分光光度法(硫氰酸盐光度法)(经典化学法)
原理:
在酸性介质中,Mo(VI) 与 SCN⁻ 生成橙红色络合物 [MoO(SCN)₅]⁻,于 460–470 nm 测吸光度。
步骤:
碱熔分解(同 ICP 法);
还原与显色:
溶液调至 pH 1–2;
加入 SnCl₂ 还原 Mo(VI) → Mo(V);
加入 KSCN 显色剂,静置 10 min;
比色测定,查标准曲线。
优缺点:
成本低,适合基层实验室;
干扰多(Fe³⁺、W、V 等需掩蔽),操作繁琐;
不适用于低品位矿(<0.1% Mo)。
标准依据:GB/T 1507-2023《钼精矿化学分析方法》。
方法3:X射线荧光光谱法(XRF)(快速筛查)
压片法:样品 + 粘结剂压片,直接测 Mo Kα 线;
熔融玻璃片法:更准,消除粒度/矿物效应;
优点:无损、快速(<5 min/样);
缺点:无法测 Re、S 等轻元素,低含量 Mo(<0.1%)误差大。
适用于选厂在线品位监控或大批量初筛。
四、铼(Re)的测定(高附加值元素)
辉钼矿是铼的主要工业来源,Re 含量虽低(ppm级),但经济价值极高。
推荐方法:ICP-MS(电感耦合等离子体质谱)
检出限:<0.1 μg/L;
同位素:¹⁸⁵Re、¹⁸⁷Re;
样品前处理:碱熔或高压釜酸溶(HF–HNO₃);
需注意:¹⁸⁷Re 有 ¹⁸⁷Os 干扰,需碰撞池或高分辨校正。
若无 ICP-MS,可用催化分光光度法(灵敏度高但操作复杂)。
来源:网络
NEWS
新闻动态service
行业解决方案