金属涂层厚度检测对于确保涂层性能、延长基材使用寿命以及保证产品质量至关重要。根据不同的应用场景和需求,有多种方法可用于检测金属涂层的厚度。下面是常见的检测方法:
磁感应测厚法:适用于非磁性涂层在磁性基体(如钢)上的测量。通过测量探头与基体之间的磁通量变化来确定涂层厚度。这种方法简单快捷,适合现场使用。
涡流测厚法:用于非导电涂层在非铁磁性金属基体(如铝或铜)上的测量。它利用高频交流电信号在探头线圈中产生涡流,当靠近金属表面时,涡流会受到涂层厚度的影响,从而改变线圈的阻抗,以此来计算涂层厚度。
超声波测厚法:适用于测量几乎所有材料上的涂层厚度,包括木材、混凝土等非金属基体上的涂层。它通过向涂层发射超声波脉冲,并测量反射回来的信号时间差来确定涂层厚度。这种方法特别适合于较厚涂层的测量。
千分尺或数显卡尺测量法:对于某些特定情况下的涂层厚度测量,可以直接使用千分尺或数显卡尺进行测量,特别是对那些没有涂层前后的对比样本。不过,这种方法通常需要破坏样品才能准确测量涂层厚度。
X射线荧光分析(XRF):虽然主要用于元素分析,但也可以用来测量涂层厚度,尤其是多层涂层系统。该技术基于不同元素对X射线的吸收特性差异来测定涂层厚度。
截面显微镜法:这是一种比较传统的方法,涉及将样品切割并抛光后,在显微镜下直接观察涂层厚度。尽管精确度高,但它是一种破坏性测试方法。
来源:网络
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