X射线荧光光谱（XRF）检测能测什么？

　　XRF能测的主要是样品中的元素种类和含量，元素范围通常覆盖硼/钠到铀，适合做金属合金、矿石、土壤、陶瓷、玻璃、塑料、电子材料等的快速无损元素分析;但它不能直接测化合物、分子结构、价态，也不适合测氢、碳、氮、氧这类超轻元素。

　　能测什么

　　元素定性/定量：一次测试可同时识别多种元素，给出各元素的大致或精确含量。

　　浓度范围：可从 ppm 级到 100%，主量元素、微量元素和部分痕量元素都能覆盖。

　　样品形态：固体块材、粉末、压片、熔融片、薄膜、涂层、液体等都可测。

　　镀层/薄膜厚度与成分：如电镀层、涂层、薄膜材料的厚度和元素组成。

　　RoHS 有害物质筛查：常用于电子电气产品中铅、汞、镉、铬、溴等有害元素的快速筛查。

　　合金牌号鉴别：不锈钢、铝合金、铜合金、镍合金等材料的成分核验。

　　典型应用场景

　　金属与有色金属：合金成分、牌号验证、废金属分选。

　　矿石与地质样品：矿石品位初筛、土壤重金属筛查。

　　电子材料/PCB：焊料、元器件、塑胶件中的有害元素筛查。

　　建材、陶瓷、玻璃、水泥：主量氧化物组分监控。

　　环境与消费品：土壤、涂料、玩具、包装材料中的重金属筛查。

　　文物与考古：颜料、陶瓷、金属器物无损成分分析。

　　不能测或容易测偏的情况

　　氢、氦、锂等超轻元素基本测不到;碳、氮、氧、硼等轻元素也只有真空/高端 WDXRF 才可能半定量，常规 EDXRF 和手持式基本测不准。

　　只能给出元素总量，不能区分价态。例如铬总量可以测，但不能直接区分三价铬和六价铬。

　　不能识别化合物和分子结构。XRF 告诉你“有什么元素、各多少”，但不能告诉你“是什么化合物”。

　　检测深度浅。通常只反映表面几微米到几十微米的成分，镀层、氧化层、油污、表面不平整都会影响结果。

　　高准确度定量需要标样校准。手持或半定量结果适合筛查，仲裁、结算或高精度要求时建议用 WDXRF、标样曲线法，或改用 ICP-OES/ICP-MS 等湿法方法。

来源：网络