X射线荧光光谱(XRF)

  1. X射线荧光光谱(XRF)

样品要求:粉末样品,粒度小于0.2mm,需1g以上,样品干燥,耐100℃高温;块体样品必须标注测试面,要求表面平整光洁无污染,对角线/直径在22-50mm之间z佳,厚度小于10mm,不掉渣不掉粉,耐100℃高温不变软。

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X射线荧光光谱(XRF)

详情介绍

  项目介绍

  可测元素范围:常规测试范围9F-92U,块体样品可以测O,粉末样品不能测O

  制样方法:压片、融片

  结果模式:单质、氧化物

  一般是半定量测试,测到的都是元素含量,无法区分元素价态,可作为一种快速的无损分析

  样品要求

  1. 样品状态:可为粉末、块状、薄膜样品

  2. 粉末样品:粉末样品需要至少1 g ,z好3 g以上,样品在测试之前尽量干燥,可以过200目筛的样品,颗粒过大的样品需要先研磨过筛后进行测试

  3. 块状、薄膜样品:块体要求表面平整光洁无污染,对角线/直径5cm以内

  结果展示

  定性-单质形式结果:

    01e5f16721cbc5fd1181ed7e4334a08c

  定性测试-氧化物形式结果:

     5b64aa34e9156a9672fed65c729c677e

  仪器型号:

  英国-Malvern Panalytical-Zetium,英国-Malvern Panalytical-Axios FAST,日本-SHIMADZU-EDX-7000,日本-Rigaku-ZSX Primus III NEXT,美国-Thermo Fisher-ARL PERFORM'X

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