详情介绍

　　项目介绍

　　常规XRD采用的是X射线直射样品，由于X射线的穿深较大，对有基底的薄膜样品，薄膜的峰经常被基底的峰掩盖。掠入射采用与样品近似平行的入射角度，使X射线仅照射在样品表面，着重关注薄膜样品的信号，规避基底信号。

　　样品要求

　　待测样品表面需光滑且平整，测试区域不要有遮挡。块体要求(在1×1cm到1.8×1.8cm)，整体厚度不超过5mm，薄膜层尽量均匀

　　仪器型号：

　　日本-Rigaku-SmartLab，德国-Bruker-D8 ADVANCE，英国-Malvern Panalytical-X'Pert3 Powder