详情介绍

　　项目介绍

　　小角X射线散射：在散射角2θ接近0°时，对样品的X射线散射强度进行测量，以获取纳米到微米量级上的分子结构信息。

　　广角X射线散射：测量散射角2θ大于5°。

　　样品要求

　　粉末样品z好提供20mg以上;

　　液体样品需要体积2mL以上，无沉淀，如测试背景需提供背景样品;

　　普通薄膜样品尺寸在10*5mm以上，膜厚越接近1mm越好，对金属、无机晶体样品要求厚度在200微米以内;

　　纤维样品需尽可能多，尽量保持伸直状态;

　　结果展示

　　仪器型号：

　　法国-Xenocs-Xeuss 2.0，法国-Xenocs-Xeuss 3.0