可以。半导体的掺杂浓度,比如说掺硼、掺磷、掺砷、掺铝这些扩散,都可以用D-SIMS测试。因为D-SIMS对应的叫动态匹配,低浓度到高浓度的范围还是比较广的,最重要是低浓度。
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