锂离子电池作为新一代绿色高能电池，在新能源汽车高新技术领域占据着举足轻重的地位，其市场需求持续增长。当前，锂电池技术飞速迭代，材料微观结构的观察与分析，已成为突破电池能量密度、循环寿命及安全性能瓶颈的关键所在。无论是研发初期的材料筛选，还是量产阶段的质量抽检，乃至失效分析的问题溯源，精准呈现电极材料、隔膜、颗粒的内部形貌，始终是行业的核心诉求。
氩离子截面抛光仪(CrossSection Polisher，简称CP)凭借其独特优势，有效破解传统制样瓶颈，有力推动了研发进程。 作为专业的材料分析服务平台，可为锂电池材料的微观结构、安全性与可靠性提供全面的性能测试解决方案。
CP-SEM原理
氩离子截面抛光仪利用高能氩离子束轰击样品表面或截面，通过离子与材料原子/分子间的动量交换实现物理溅射，从而对样品进行精细减薄与抛光，z终获得平整、低损伤的表面以满足电镜分析的需求。
CP-SEM制样过程是采用一个坚固的挡板遮挡住样品的非目标区域，有效遮蔽非目标区域的离子束，从而创造一个切割平面，这样可以获得平整的目标截面区域。
对于电池隔膜、高分子聚合物等温度敏感材料，溅射产生的热量可能导致材料软化、熔融或结构变形。为此，设备特别配置冷冻台。样品可在低温冷冻状态下进行处理，有效抑制热损伤与结构变形，保护材料的原始微观结构和形貌，确保观察结果的真实性与准确性。
来源：网络
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