详情介绍

　　项目介绍

　　主要用来观测金属材料的相、晶粒及某些晶体缺陷等;

　　样品要求

　　1、样品状态：块体;

　　2、尺寸要求：(1)需要制样的，直接磨抛(不镶样)的样品直径或长宽需大于20mm、厚度需大于10mm(小于该尺寸或不规则的样品，需要镶嵌;大于该尺寸且需要镶嵌的样品，需要切割后再制样;线切割的样品需注意样品导电性);

　　(2)若样品不需要制样，尺寸无严格限制，注意测试面务必自行抛光好，并保护好待测面送样;

　　常见问题

　　图片一部分清楚，一部分不清楚，请问是怎么回事?

　　光学显微镜的景深比较小，若样品不平，会出现上述现象;所以想得到比较完美的金相图片，样品的抛光质量是必须要保证的;

　　有时拍摄出来的晶界特别黑，图片暗沉，是什么原因?

　　图片较暗，有可能是光线太暗，需要增强光线;晶界特别黑，很可能是腐蚀过度的原因;

　　磨样+抛光流程?

　　(1)用砂纸从粗到细开始磨，每道砂纸磨样至少两个十字来回(一般1000号以上的，每一道砂纸4-5个来回：每个来回时，要求肉眼看不到垂直方向的磨痕);(2)磨好的样品上抛光机，在抛光布上喷适量抛光剂进行抛光，抛光也是按照十字方向进行;(3)抛光过程中，注意适量加水，防止摩擦过热，然后适时喷加抛光剂;(4)抛光完毕后，换新的抛光布进行水抛，目的是洗净抛光剂。

　　仪器型号：

　　德国-ZEISS-Axio Imager 2，德国-ZEISS-Axio Lab.A1，中国-西恩士-SinPOL3000T