详情介绍
项目介绍
一般而言,多晶体各晶粒在空间的取向是任意的,各晶粒之间没有一定的位向关系。而经过冷加工,或者其他一些冶金,热处理过程后(如铸造、电镀、气相沉积、热加工、退火等等),多晶体的取向分布状态可以明显偏离随机分布状态,呈现一定的规则性。这样一种位向分布就称为织构,或者择优取向。此项目通过X射线与晶体的相互作用,确定样品的织构。
样品要求
此测试主要适用于薄膜样品和块体样品。
仪器型号:
德国-Bruker-D8 ADVANCE

多晶体各晶粒在空间的取向是任意的,各晶粒之间没有一定的位向关系。而经过冷加工,或者其他一些冶金,热处理过程后(如铸造、电镀、气相沉积、热加工、退火等等),多晶体的取向分布状态可以明显偏离随机分布状态,呈现一定的规则性。这样一种位向分布就称为织构,或者择优取向。此项目通过X射线与晶体的相互作用,确定样品的织构。
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一般而言,多晶体各晶粒在空间的取向是任意的,各晶粒之间没有一定的位向关系。而经过冷加工,或者其他一些冶金,热处理过程后(如铸造、电镀、气相沉积、热加工、退火等等),多晶体的取向分布状态可以明显偏离随机分布状态,呈现一定的规则性。这样一种位向分布就称为织构,或者择优取向。此项目通过X射线与晶体的相互作用,确定样品的织构。
样品要求
此测试主要适用于薄膜样品和块体样品。
仪器型号:
德国-Bruker-D8 ADVANCE