同步辐射X射线吸收谱(XAS/XAFS)是一种基于同步辐射光源的先进表征技术，用于研究材料的局域原子结构和电子结构。它不...

同步辐射单晶衍射是利用同步辐射光源产生的高亮度、高准直性、波长连续可调的X射线，对单晶样品进行衍射数据采集，进而解析晶体...

=粉末：100mg(含量高的可以少一些，研磨到400目以下，无明显颗粒感);块体：尺寸10*10mm，厚度建议微米级较好...

金属纳米复合材料(如纳米颗粒/碳纳米管/石墨烯增强铝合金、镁合金、钛合金，纳米层状/梯度结构金属等)凭借纳米增强相引入的...

氮化镓(GaN)电阻率测试是评估这种第三代半导体材料电学性能的基础表征手段。由于GaN材料形态多样(外延片、块体单晶、薄...

氮化硅(Si₃N₄)疲劳测试是评估这种先进结构陶瓷在循环载荷下可靠性和使用寿命的关键手段。氮化硅因其高硬度、耐高温、低密...

金属材料电阻测试的核心标准为GB/T 351-2019与ASTM B193;主要方法为四探针法、双电桥法、直流压降法与涡...

导电型SiC衬底主要用于功率器件(如MOSFET、SBD)，电阻率范围通常在0.005～200 Ω·cm之间。

多晶硅是由多个晶粒组成的硅材料，是半导体芯片和太阳能电池的核心基础原料。其纯度、晶体结构和缺陷状态直接决定了下游器件的电...

负极石墨材料的微观形貌和成分纯度检测是保障锂电池性能的关键环节，涉及多种表征技术和分析方法

电池截面多层膜层结构的微观成像与数据分析，通常需要结合多种先进的材料表征技术。从样品的无损或精密制备，到高分辨率的二维形...

金属粉末中的氧含量是评估粉末质量、烧结活性以及z终产品力学性能的关键指标。目前，针对金属粉末氧含量的测试，国际和国内均建...