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项目介绍
霍尔效应是当电流垂直于外加磁场通过一个导体或半导体时,在垂直于电流和磁场的方向上会产生一个横向电压(霍尔电压)的现象。霍尔效应测试主要用于表征半导体材料和其他导电材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数。
范德堡法是一种常用于测量样品的电阻率和霍尔系数的方法。它的功能是能够精确测量任意形状样品的性质,但需要在材料表面制作四个对称的欧姆接触电极,这种方法对样品形状没有特殊要求,但要求其厚度和电阻率均匀,并 要求表面没有孔洞。四个接触点要尽可能小,并且这四个接触点必须位 于薄膜的边缘。

样品要求
1.使用PPMS样品尺寸:长宽3-10mm,厚度不超过3mm,可测温度范围是2-1000K(可以测大磁场,需议价);
使用霍尔测试仪样品尺寸:6mm*6mm-30mm*30mm,厚度不超过3mm(磁场不大于2T)
2. 粉末无法直接测试,都是通过压片后再测试,至少提供1ml粉末。
结果展示
数据形式:




