白光干涉仪

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详情介绍

  项目介绍

  主要测试三维形貌,进行粗糙度、深度、体积的测量。

  样品要求

  块体样品,尺寸不超过50*50*50mm;黑色、透明样品无法测试,注意样品要反光。

  结果展示

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  仪器型号:

  美国-Rtec Instruments-UP-2000,美国-KLA Tencor-MicroXAM-800,美国-Rtec Instruments-UP-3000,德国-Bruker-ContourGT-K,德国-Bruker-Contour X200

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