详情介绍
项目介绍
主要测试三维形貌,进行粗糙度、深度、体积的测量。
样品要求
块体样品,尺寸不超过50*50*50mm;黑色、透明样品无法测试,注意样品要反光。
结果展示



仪器型号:
美国-Rtec Instruments-UP-2000,美国-KLA Tencor-MicroXAM-800,美国-Rtec Instruments-UP-3000,德国-Bruker-ContourGT-K,德国-Bruker-Contour X200

白光干涉仪主要测试三维形貌,进行粗糙度、深度、体积的测量。