详情介绍

　　项目介绍

　　原位同步辐射吸收谱(XAFS)利用同步辐射光源产生的高亮度X射线，通过测量材料对不同能量X射线的吸收情况，获取材料的局部结构和电子态信息。该技术能够在真实反应条件下进行实时监测，避免了离线测试中可能出现的结构弛豫和活性中间体流失等问题。常应用在电化学原位分析、变温原位分析、光照原位分析。

　　样品要求

　　1. 样品量要求：粉末：200mg(含量高的可以少一些，研磨到400目以下，无明显颗粒感);块体：尺寸10*10mm，厚度建议微米级较好，否则需要用荧光模式;液体：5ml以上;

　　2. 样品若易氧化/吸水变质，请提前告知;

　　结果展示