详情介绍
项目介绍
测试样品的瞬态和稳态表面光电压,稳态是通过测量由于光照在半导体材料表面产生的表面电压来获得少数载流子扩散长度的方法。
样品要求
粉末样品大于100mg,薄膜样品大于1*1.5cm
结果展示


测试样品的瞬态和稳态表面光电压,稳态是通过测量由于光照在半导体材料表面产生的表面电压来获得少数载流子扩散长度的方法。
详情介绍
项目介绍
测试样品的瞬态和稳态表面光电压,稳态是通过测量由于光照在半导体材料表面产生的表面电压来获得少数载流子扩散长度的方法。
样品要求
粉末样品大于100mg,薄膜样品大于1*1.5cm
结果展示
